1检测前，应对超声仪的主要技术指标（如斜探头入射点、斜率K值或角度）进行检查确认；应根据所测工件的尺寸调整仪器时基线，并应绘制距离-波幅(DAC)曲线。2 距离-波幅(DAC)曲线应由选用的仪器、探头系统在对比试块上的实测数据绘制而成。当探伤面曲率半径R小于等于W2/4时，距离-波幅(DAC)曲线的绘制应在曲面对比试块上进行。距离﹣波幅(DAC)曲线的绘制应符合下列要求： 1 绘制成的距离-波幅曲线（图7．3．2）应由评定线EL、定量线SL和判废线RL组成。评定线与定量线之间（包括评定线）的区域规定为Ⅰ区，定量线与判废线之间（包括定量线）的区域规定为Ⅱ区，判废线及其以上区域规定为Ⅲ区。
图7．3．2 距离-波幅曲线示意图
2 不同检验等级所对应的灵敏度要求应符合表7．3．2的规定。表中的DAC应以Φ3横通孔作为标准反射体绘制距离-波幅曲线（即DAC曲线）。在满足被检工件最大测试厚度的整个范围内绘制的距离-波幅曲线在探伤仪荧光屏上的高度不得低于满刻度的20％。
3 超声波检测应包括探测面的修整、涂抹耦合剂、探伤作业、缺陷的评定等步骤。4 检测前应对探测面进行修整或打磨，清除焊接飞溅、油垢及其他杂质，表面粗糙度不应超过6．3μm。当采用一次反射或串列式扫查检测时，一侧修整或打磨区域宽度应大于2．5Kδ；当采用直射检测时，一侧修整或打磨区域宽度应大于1．5Kδ。5 应根据工件的不同厚度选择仪器时基线水平、深度或声程的调节。当探伤面为平面或曲率半径R大于W2/4时，可在对比试块上进行时基线的调节；当探伤面曲率半径R小于等于W2/4时，探头楔块应磨成与工件曲面相吻合的形状，反射体的布置可参照对比试块确定，试块宽度应按下式进行计算：
b≥2λS/De （7．3．5）
式中：b——试块宽度(mm)； λ——波长(mm)； S——声程(mm)； De——声源有效直径(mm)。6 当受检工件的表面耦合损失及材质衰减与试块不同时，宜考虑表面补偿或材质补偿。7 耦合剂应具有良好透声性和适宜流动性，不应对材料和人体有损伤作用，同时应便于检测后清理。当工件处于水平面上检测时，宜选用液体类耦合剂；当工件处于竖立面检测时，宜选用糊状类耦合剂。8 探伤灵敏度不应低于评定线灵敏度。扫查速度不应大于150mm/s，相邻两次探头移动区域应保持有探头宽度10％的重叠。在查找缺陷时，扫查方式可选用锯齿形扫查、斜平行扫查和平行扫查。为确定缺陷的位置、方向、形状、观察缺陷动态波形，可采用前后、左右、转角、环绕等四种探头扫查方式。9 对所有反射波幅超过定量线的缺陷，均应确定其位置、最大反射波幅所在区域和缺陷指示长度。缺陷指示长度的测定可采用以下两种方法： 1 当缺陷反射波只有一个高点时，宜用降低6dB相对灵敏度法测定其长度； 2 当缺陷反射波有多个高点时，则宜以缺陷两端反射波极大值之处的波高降低6dB之间探头的移动距离，作为缺陷的指示长度（图7．3．9）。
图7．3．9 端点峰值测长法
3 当缺陷反射波在Ⅰ区未达到定量线时，如探伤者认为有必要记录时，可将探头左右移动，使缺陷反射波幅降低到评定线，以此测定缺陷的指示长度。
10 在确定缺陷类型时，可将探头对准缺陷作平动和转动扫查，观察波形的相应变化，并可结合操作者的工程经验作出判断。
